Платформа Keysight Technologies для выполнения измерений на полупроводниковых пластинах теперь имеет встроенную функцию измерения низкочастотных шумов

Платформа Keysight Technologies для выполнения измерений на полупроводниковых пластинах теперь имеет встроенную функцию измерения низкочастотных шумов

20 Июля 2016

Компания Keysight Technologies объявила о выпуске новой версии своего высокопроизводительного Низкочастотного анализатора шума (A-LFNA), который предназначен для выполнения быстрых, точных и воспроизводимых измерений низкочастотных шумов. Эта версия оснащена новым интерфейсом пользователя и непосредственно интегрируется с ПО WaferPro Express компании Keysight – платформой, выполняющей автоматические измерения на полупроводниковых пластинах. В рамках этой большой интегрированной среды данная платформа предоставляет инженерам исчерпывающее представление о природе шума в их устройствах и схемах, превосходя возможности измерения шумов в автономной системе.

Новый расширенный низкочастотный анализатор шума предлагает уникальную возможность измерения и моделирования шумов устройств на полупроводниковых пластинах.

Ключевые нововведения:
  • Интеграция расширенного низкочастотного анализатора шума с ПО WaferPro Express позволяет создать готовое решение для измерения шумов, а также параметров постоянного тока, емкости и высокочастотных S-параметров
  • Программный модуль измеряет параметры по постоянному току, шум 1/f, случайный телеграфный шум и анализирует данные проводимости
  • Тесное сотрудничество компаний Keysight и Cascade Microtech позволило создать полностью интегрированное решение для измерений на полупроводниковых пластинах с автоматическим управлением всеми основными системами зондирования полупроводниковых пластин
Сегодня инженерам, занятым измерением параметров полупроводниковых приборов, нередко нужна система для измерения шумов, которая обладала бы гибкостью и возможностями расширения. В частности, востребована система, объединяющая расширенные измерения и анализ низкочастотного шума с измерениями на полупроводниковых пластинах в одной мощной платформе, способной управлять тестированием всех характеристик на уровне полупроводниковых пластин. Непосредственная интеграция A-LFNA с ПО WaferPro Express даёт именно такую функциональность. Это интегрированное решение упрощает измерение шума компонентов, отдельных устройств и интегральных схем, как в корпусах, так и на полупроводниковых пластинах. Как и раньше, с помощью WaferPro Express инженеры могут программировать и выполнять высокоскоростные измерения по постоянному току, измерения ёмкости и измерения высокочастотных S-параметров, автоматизируя при этом управление зондовой станцией. Теперь, благодаря модулю для измерения шумов, они могут добавить в набор тестов измерения и анализ шума.

Встроенные в A-LFNA процедуры измеряют параметры по постоянному току и шум. Например, чтобы измерить шум КМОП транзистора с N каналом, система автоматически выбирает импедансы источника сигнала и нагрузки, которые наилучшим образом выявляют собственный шум устройства. Инженер может принять эти рекомендованные настройки или внести изменения – на этом инициализация измерения заканчивается. Затем A-LFNA измеряет спектральную плотность мощности шума (шум 1/f) и уровень шума во временной области (RTN). Результирующие данные отображаются в виде нескольких графиков. Различные вкладки упрощают выполнение типовых операций, таких как оценка рабочей точки устройства по постоянному току и измерение наклона кривой спектральной плотности мощности. Кроме того, данные шума можно анализировать и представлять в моделях устройств с помощью средств моделирования, таких как Model Builder Program (MBP) и IC-CAP компании Keysight. Разработчики схем могут использовать эти модели для точного проектирования малошумящих ВЧ схем и аналоговых цепей.

Keysight A-LFNA обладает лучшей в отрасли чувствительностью к шумам (-183 дБВ2/Гц), что позволяет инженерам, занятым моделированием и измерением параметров цепей, быстро и точно измерять характеристики устройств на высоких напряжениях (до 200 В) и на сверхнизких частотах (от 0,03 Гц). Благодаря таким возможностям A-LFNA идеально подходит для разработки библиотек для технологических процессов на заводах, выпускающих полупроводниковые приборы, и для статистического управления процессами во время изготовления устройств. Производители операционных усилителей и линейных стабилизаторов напряжения тоже могут использовать A-LFNA для измерения параметров выходного шума с целью включения их в технические характеристики.

Более подробную информацию можно найти на сайте http://www.keysight.com/find/eesof-a-lfna