Приглашаем на информационно-технический онлайн-семинар, посвященный новым технологиям и эффективным производственным решениям для электронной промышленности. 

На онлайн-встрече мы поговорим о проведении неразрушающего контроля методом ультразвуковой микроскопии, проведем обзор оборудовании для УЗ-микроскопии, рассмотрим виды дефектов.

Онлайн-семинар рекомендован:

  • главным технологам;
  • технологам на производстве микроэлектроники;
  • специалистам отдела входного контроля и контроля качества.

Программа

  1. Особенности технологии ультразвуковой микроскопии.
  2. Построение изображений. Режимы сканирования.
  3. Области применения метода ультразвуковой микроскопии.
  4. Обзор оборудования для ультразвуковой микроскопии компании KSI: особенности. модели.
  5. Виды дефектов.

Докладчик

Утгоф Валерия,
руководитель проектов по микроэлектронике

Условия участия

Участие бесплатное. Необходима регистрация. Количество мест ограничено. После регистрации мы будем присылать напоминания и ссылку на вход в вебинарную комнату.

Регистрация

Подать заявку.


Место и время проведения
Время и дата:
21 апреля 2021
с 11:00 до 12:00
Место проведения:
online
×

Наш сайт использует технологию Cookie. Оставаясь на ресурсе, Вы принимаете Соглашение об использовании файлов cookie.