21 апреля 2021,
Приглашаем на информационно-технический онлайн-семинар, посвященный новым технологиям и эффективным производственным решениям для электронной промышленности. На онлайн-встрече мы поговорим о проведении неразрушающего контроля методом ультразвуковой микроскопии, проведем обзор оборудовании для УЗ-микроскопии, рассмотрим виды дефектов.
Онлайн-семинар рекомендован:
- главным технологам;
- технологам на производстве микроэлектроники;
- специалистам отдела входного контроля и контроля качества.
Программа
- Особенности технологии ультразвуковой микроскопии.
- Построение изображений. Режимы сканирования.
- Области применения метода ультразвуковой микроскопии.
- Обзор оборудования для ультразвуковой микроскопии компании KSI: особенности. модели.
- Виды дефектов.
Докладчик
Утгоф Валерия,
руководитель проектов по микроэлектронике
Условия участия
Участие бесплатное. Необходима регистрация. Количество мест ограничено. После регистрации мы будем присылать напоминания и ссылку на вход в вебинарную комнату.
