TAKAYA APT-1600FD – новое (седьмое) поколение двухсторонних систем с «летающими щупами» TAKAYA.
Иная конфигурация линейных приводов «летающих щупов», увеличенное их количество, серьёзно модернизированная аппаратная и программная часть установки – всё это делает TAKAYA APT-1600FD лидером в части скорости осуществления проверок (на 30-50% быстрее других систем) и их точности. Благодаря этим свойствам TAKAYA APT-1600FD наиболее эффективна в условиях среднесерийного производства печатных плат с высокой плотностью размещения элементов. Кроме того, увеличенная площадь зоны тестирования позволяет системе TAKAYA APT-1600FD работать с печатными платами увеличенных размеров.
Система APT-1600FD может быть оснащена до 10 независимыми тестовыми щупами – 6 с верхней стороны платы и до 4 с нижней. С верхней стороны платы в дополнение к четырем стандартным летающим щупам, установленным под углом к тестируемой плате, в APT- 1600FD могут быть добавлены два дополнительных щупа или IC open-сенсора, двигающихся вертикально. Щупы, двигающиеся по оси Z вертикально, способны протестировать труднодоступные точки, которые нельзя проверить с помощью стандартных щупов, установленных под углом, а также с высокой точностью контактировать с поверхностями, расположенными на разных высотах. Кроме того, эта функция позволяет с помощью щупов специальной формы контактировать с отверстиями под выводные компоненты или выводами разъемов. Таким образом можно существенно увеличить тестовое покрытие и производительность системы.
Технические характеристики
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Щупы для верхней стороны платы | 4 подвижных наклонных щупа; 2 подвижных вертикальных щупа; 2 подвижных щупа IC-open; 2 светодиодных сенсора. |
| Щупы для нижней стороны платы | 2 подвижных щупа (плюс ещё 2 опционально); 2 подвижных щупа IC-open; 2 светодиодных сенсора. |
| Система компенсации прогиба печатной платы | Лазерная, двухсторонняя |
| Разрешение позиционирования летающих щупов | По осям X и Y: 1,25 мкм = 0,00125 мм (0,05 mil) По оси Z: 5 мкм = 0,005 мм (0,2 mil) |
| Скорость тестирования (при шаге 2,5 мм), максимальное значение | Одиночный тест: 0,05 – 0,06 с /шаг; При последовательности тестов: 0,02 – 0,03 с /шаг. |
| Повторяемость позиционирования щупов (по осям X и Y) | ±25 мкм = 0,025 мм (±1,0 mil) в режиме высокой точности |
| Минимальный размер проверяемой контактной площадки | 30 – 50 мкм (0,03 – 0,05 мм) при использовании игольчатых щупов |
| Пределы измерений | |
| - Низкоомные сопротивления | 40мОм – 400 Ом (измерение методом Кельвина) |
| - Сопротивления | 0,4 Ом – 40 МОм |
| - Ёмкости | 4пФ – 40мФ |
| - Индуктивности | 4мкГн – 400 Гн |
| - Импеданс | 33 Ом – 330 кОм |
| - Диоды/транзисторы | 0,1 В – 2,5 В или тест включения |
| - Стабилитроны | 0,4 В – 40 В |
| - Транзисторы со встроенным резистором | тест включения |
| - Оптопары | тест включения |
| - Полевые транзисторы | тест включения |
| - Реле, ключи | тест включения (максимальное управляющее напряжение 24 В, 2 А) |
| - Интегральные микросхемы | тест IC-Open |
| Источники питания | |
| - Постоянное напряжение | 0,08 В – 80 В |
| - Переменное напряжение | 0,08 В – 50 В |
| - Постоянный ток | 0,1 А – 2,0 А |
| Требования к питанию и подводу воздуха | |
| - Электропитание | Сеть переменного тока 200 – 240 В, 50/60 Гц, 2,8 кВА |
| - Воздух | 0,6 – 0,7 МПа (сухой чистый воздух) |
| Габариты | 1400×1500×1400 мм |
| Вес | 1450 кг |
