Инфракрасный микроскоп для контроля качества бондинга

Добавить к сравнению

Склад: сроки поставки по запросу

Цена

по запросу
Узнать цену
  • Описание
Данный микроскоп предназначен для выявления дефектов, возникающих при операциях сращивания пластин. Инфракрасное просвечивание обеспечивает бесконтактный поиск глубинных дефектов вплоть до микронных размеров. Контроль может производиться либо оператором, либо в автоматическом режиме. Система характеризуется хорошим быстродействием и отлично подходит как для производственных, так и для научно-исследовательских целей.

Технические характеристики:

Проверяемые материалы Si-Si/Si-Glass/Si-Au/Si-GaAs/Si-GaP/SiGaAsP/Si-LiNbO3/Si-LiTaO3/Si-Au-PZT/Si-Au-PLZT/Si-polymer-Si
Максимальный размер пластины 200 мм
Оптическое увеличение 0,75–4,5×
7–40×
Подсветка Стандартная
  Опционально
Перемещение координатного стола по оси X
  по оси Y
  по оси Z
Регулируемые функции Система линз с двойным увеличением
Две встроенные камеры
Координатный стол
Подсветка
Прилагаемое ПО Предварительная обработка изображений
Склейка изображений
Измерения: расстояние, площадь
А также другие функции
Обнаруживаемые дефекты Отслаивание, посторонние частицы, нарушения соединения, полости, нарушение контура уплотнения, повреждения поверхности
Габаритные размеры (Ш×Г×В) 325×705×735 мм
Вес 85 кг