Системы контроля ионных загрязнений серии CM, Gen3

Добавить к сравнению

Склад: сроки поставки по запросу

Цена

по запросу
Узнать цену
  • Описание
Применяется для проверки уровня ионного загрязнения печатной платы. Позволяет добиться точного результата за короткий промежуток времени. Графическое отображение информации делает работу простой и удобной.
  • Баллистический усилитель позволяет добиться точности <0,005 μS/см
  • Время теста <5 мин.
  • Высокая точность измерений
  • Автоматическая компенсация температуры для каждого теста

Технические характеристики

  CM 11+ CM 22 CM 33
Максимальный размер платы 250 x 300 x 36 мм 250 x 350 x 60 мм Ванна 1: 500 x 350 x 60 мм
Ванна 2: 610 x 610 x 90 мм
Диапазон измерений 0,01 . 30 μg/см2 NaCl
Чувствительность <0,25% диапазона измерений
Точность и повторяемость ±2% диапазона
Макс. загрузка жидкостью 3,5 л 7,5 л Ванна 1: 10,5 л
Ванна 2: 33,5 л
Электропитание 100-240 В, 50/60 Гц
Вес примерно 30 кг примерно 40 кг Ванна 1: примерно 75 кг
Ванна 2: примерно 85 кг
Габаритные размеры (ШхГхВ)    39 x 36 x 52 см 92 x 61 x 100 см 92 x 61 x 100 см