Радиоизмерительное и электроизмерительное оборудование: Agilent Technologies, Fluke, Fluke Calibration, Teseq, Pendulum, Astromed, Anapico, ETS-Lindgren, Ophir, Meatest, Sonel, МНИПИ.
- Осциллографы
- Вольтметры/мультиметры лабораторные
- Генераторы сигналов и импульсов высокочастотные
- Частотомеры и стандарты частоты
- Измерители RLC
- Анализаторы спектра
- Анализаторы цепей
- Измерители параметров антенн
- Измерители мощности
- Измерители коэффициента шума
- Анализаторы источников сигналов
- Радиоизмерительные комплексы
- Измерительные антенны
- Модульные приборы стандарта PXI и cPCI
- Системы автоматизированного проектирования
- Принадлежности для ВЧ и СВЧ-измерений
- Оптические измерения
- Оборудование для испытаний на ЭМС
- Логические анализаторы
- Регистраторы и системы сбора данных
- Источники питания
- Мультиметры/тестеры ручные
- Токоизмерительные клещи
- Электроизмерительные приборы
- Анализаторы качества электроэнергии
- Калибраторы и поверочное оборудование
- Измерители температуры
- Тепловизоры
- Газосигнализаторы
- Прочее оборудование
Контрольно-измерительные приборы
Контрольно-измерительные приборы > Анализаторы цепей > Анализаторы цепей Agilent Technologies (США)
ПО для измерения параметров материалов 85071Е
ПО измерения параметров материалов 85071E позволяет проводить измерения комплексной диэлектрической проницаемости (ε, epsilon) и комплексной магнитной проницаемости (µ, mu) для широкого спектра твердых материалов. ПО выполняет весь необходимый контроль анализатора цепей, расчеты и функции представления данных.
- Осуществляет контроль анализатора цепей для измерения комплексных S-параметров образца материала,
- Устраняет влияние на измерение S-параметров со стороны оснастки для фиксации образца.
- Пересчитывает комплексные параметры материала в ε и µ
- Отображает результаты измерений в виде графиков и таблиц с различными форматами (r’, er’’, tan, r’, r’’, tan m и Cole-Cole)
Информация для заказа
85071E ПО для измерения параметров материалов85071E-100 калибровка в свободном пространстве, обеспечивает дополнительную процедуру калибровки в свободном пространстве типа стробированной линии отражения (требует опции анализа во временной области у анализатора цепей)
85071E-200 метод измерений Арка (требует опции анализа во временной области у анализатора цепей)
85071E-300 метод объемного резонатора