Санкт-Петербург (812) 325-1478; (812) 702-1266 pribor@dipaul.ru Москва (495) 645-2002 msk@dipaul.ru

Оборудование и материалы для производства электроники

События

Заказчики

Поставщики

Пресс-центр

Каталоги

Оборудование и материалы для производства электроники  >  Поиск и обнаружение дефектов  >  Системы автоматической оптической инспекции (АОИ) YestTech

Системы автоматической оптической инспекции для микроэлектроники

Автоматическая инспекция:

  • отсутствия сварных соединений (перемычек)
  • повреждения сварных соединений
  • качества паяного соединения
  • смещения относительно края контактной площадки
  • эпоксидного слоя
  • дефектов кристалла
  • столбиковых/шариковых выводов
  • поверхностно-монтируемых компонентов
  • платы на предмет загрязнений

Выявляемые дефекты:

  • сварных соединений: отсутствие перемычек, повреждение проволочного соединения, отсутствия контакта, смещение относительно края контактной площадки, неправильная форма соединения, приподнятый вывод
  • полупроводниковых кристаллов: отсутствие, неправильный монтаж кристаллов, полярность, сколы, загрязнения
  • компонентов: отсутствие, неправильный монтаж, полярность, эффект «надгробного камня»
  • эпоксидного покрытия/паяльной пасты: загрязнения, недостаток, избыток, образование перемычек

Встраиваемая в линию система автоматической оптической инспекции M1m

 Технические характеристики

Скорость 75 – 125 см2
Максимальный размер поддона 350 х 250 х 25 мм
Работа с JEDEC, многокристальными модулями (MCM),
ГИС, FlipChip, BGA, microBGA, MЭMС,
«кристалл на кристалле», PоP («корпус на корпусе»)
Камера 3 Мп
Воздух 4 – 6 бар
Габаритные размеры (ШхГхВ) 876 х 1010 х 1400 мм
Вес 770 кг
Электропитание 110 − 240 В, 50/60 Гц