Санкт-Петербург (812) 325-1478; (812) 702-1266 pribor@dipaul.ru Москва (495) 645-2002 msk@dipaul.ru

Оборудование и материалы для производства электроники

События

Заказчики

Поставщики

Пресс-центр

Каталоги

Поиск и обнаружение дефектов  >  Системы автоматической оптической инспекции (АОИ) YestTech

Автоматическая инспекция:

  • качества пайки; выводов компонентов, качества установки компонентов (наличие/отсутствие и смещение компонентов); полярности компонентов; монтируемых в отверстия компонентов; качества нанесения паяльной пасты

Выявляемые дефекты:

  • компонентов: смещение, отсутствие, неправильная установка компонентов, полярность, эффект «надгробного камня»
  • паяных соединений: приподнятые и изогнутые выводы микросхем, перемычки припоя между выводами микросхем
  • паяльной пасты: непропаи, недостаток паяльной пасты, шарики припоя

 

Настольная система автоматической оптической инспекции ВХ

 Технические характеристики

Скорость до 64,5 см2
Макс. размер платы 457 х 508 мм
Зазор над и под платой 50 мм
Минимальный компонент 0201 (01005 – опция)
Камера 5 Мп (сверху вниз)
Габаритные размеры (ШхГхВ) 864 х 991 х 432 мм
Вес 77 кг
Электропитание 110 − 220 В, 50/60 Гц

 

Встраиваемые в линию системы автоматической оптической инспекции M1 и FX

 Технические характеристики

  M1 FX
Скорость 35,5 см2 64,5 см2
Макс. размер платы 350 х 250 мм 560 х 510 мм
Зазор над платой 25 мм 50 мм
Зазор под платой 50 мм 50 мм
Минимальный компонент 01005 0201 (01005 – опция)
Камера 3 Мп 5 Мп
Воздух 4 – 6 бар мин. 2 бара
Габаритные размеры (ШхГхВ) 876 х 1010 х 1400 мм 1400 х 1450 х 1270 мм
Вес 770 кг 907 кг
Электропитание 110 − 240 В, 50/60 Гц 110 В (220 – опция), 50/60 Гц

Автоматическая инспекция:

  • отсутствия сварных соединений (перемычек)
  • повреждения сварных соединений
  • качества паяного соединения
  • смещения относительно края контактной площадки
  • эпоксидного слоя
  • дефектов кристалла
  • столбиковых/шариковых выводов
  • поверхностно-монтируемых компонентов
  • платы на предмет загрязнений

Выявляемые дефекты:

  • сварных соединений: отсутствие перемычек, повреждение проволочного соединения, отсутствия контакта, смещение относительно края контактной площадки, неправильная форма соединения, приподнятый вывод
  • полупроводниковых кристаллов: отсутствие, неправильный монтаж кристаллов, полярность, сколы, загрязнения
  • компонентов: отсутствие, неправильный монтаж, полярность, эффект «надгробного камня»
  • эпоксидного покрытия/паяльной пасты: загрязнения, недостаток, избыток, образование перемычек

Встраиваемая в линию система автоматической оптической инспекции M1m

 Технические характеристики

Скорость 75 – 125 см2
Максимальный размер поддона 350 х 250 х 25 мм
Работа с JEDEC, многокристальными модулями (MCM),
ГИС, FlipChip, BGA, microBGA, MЭMС,
«кристалл на кристалле», PоP («корпус на корпусе»)
Камера 3 Мп
Воздух 4 – 6 бар
Габаритные размеры (ШхГхВ) 876 х 1010 х 1400 мм
Вес 770 кг
Электропитание 110 − 240 В, 50/60 Гц

 

Автоматическая инспекция:

  • качества нанесения защитного покрытия (наличие/отсутствие, равномерность, разбрызгивание)
  • качества установки компонентов (опция)

Выявляемые дефекты:

  • отслаивание покрытия
  • трещины и пузырьки в покрытии
  • области, на которые покрытие не нанесено
  • отсутствие компонентов
  • приподнятые, погнутые выводы компонентов
  • перемычки

Настольная система автоматической оптической инспекции ВХ-UV

Технические характеристики

Скорость 64,5 см2
Макс. размер платы 457 х 508 мм
Зазор над и под платой 50 мм
Камера 5 Мп
Свет ультрафиолетовый
Габаритные размеры (ШхГхВ) 864 х 991 х 432 мм
Вес 77 кг
Электропитание 110 − 220 В, 50/60 Гц

 

Встраиваемая в линию система автоматической оптической инспекции FХ-UV

Технические характеристики

Скорость 64,5 см2
Макс. размер платы 560 х 510 мм
Зазор над и под платой 50 мм
Камера 5 Мп
Свет ультрафиолетовый
Габаритные размеры (ШхГхВ) 1400 х 1450 х 1270 мм
Вес 840 кг
Электропитание 110 − 220 В, 50/60 Гц