Санкт-Петербург (812) 325-1478; (812) 702-1266 pribor@dipaul.ru Москва (495) 645-2002 msk@dipaul.ru

Оборудование и материалы для производства электроники

События

Заказчики

Поставщики

Пресс-центр

Каталоги

Системы рентгеновского контроля компании Dage

Отличительные черты систем рентгеновского контроля компании Dage

  • Простые в работе системы
  • Точное распознавание всех компонентов изображения
  • Лучшее в своем классе качество получаемого изображения
  • Автоматизированные операции проведения инспекции
  • Изоцентрическое перемещение гарантирует непрерывное вращение вокруг любой точки
  • Высокое разрешение получаемых изображений
  • Высокая степень увеличения исследуемых образцов
  • Большая область контроля и вращение вокруг исследуемой области на 360°.
  • Эргономичный дизайн
  • Небольшая площадь основания
  • Высокая степень безопасности эксплуатации систем – полная защита корпуса свинцом (утечка рентгеновского излучения <1 мк3в/ч)
Возможности программного обеспечения
  • Удобная навигация с быстрым позиционированием на искомой области
  • Автоматическое распознавание реперных знаков
  • Контроль области и геометрии исследуемого объекта
  • Измерение геометрических размеров, включая измерение диаметра контактов BGA
  • Угловые измерения
  • Поддержка режима сниженной силы излучения (Low Dose Mode) для контроля особо чувствительных к рентгеновскому излучению компонентов
  • Автоматический мониторинг работоспособности системы рентгеновского контроля
  • Контроль формы проволочных соединений в чипе
  • Контроль оттенков уровня серого
  • Регулировка контраста изображения
  • Графические фильтры
  • Автоматическое построение отчета о результатах проведенного тестирования

Выявляемые дефекты

  • Пустоты в паяных соединениях (BGA, QFN и др.)
  • Перемычки между выводами (BGA, QFN и др.)
  • Автоматический анализ BGA: диаметр выводов, количество пустот в процентном выражении, площадь, геометрия вывода, перемычки, отсутствие выводов, опционально – непропаи и холодная пайка
  • Анализ наполненности припоем отверстий при выводном монтаже
  • Разрыв/отсутствие проволочных соединений в чипе
  • Рассовмещение внутренних слоев печатных плат, металлизации отверстий, разрыв "дорожек" в печатной плате

Область применения:

  • Контроль пайки электронных компонентов: SMD, ГИС, BGA, μBGA, CSP, флип-чипы, QFP
  • Входной контроль электронных компонентов
  • Контроль монтажа межсоединений в чипе
  • Контроль установки кристаллов
  • Контроль проводников внутри ИМС
  • Рентгеноскопия различных объектов на предмет выявления визуально скрытых дефектов

Дополнительные материалы